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電子元器件高低溫沖擊測試箱

電子元器件高低溫沖擊測試箱對各種金屬、非金屬及復合材料進(jìn)行環(huán)境性能測試和分析研究，廣泛用于航天航空、石油化工、機械制造、車(chē)輛制造、

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電子元器件高低溫沖擊測試箱

對各種金屬、非金屬及復合材料進(jìn)行環(huán)境性能測試和分析研究，廣泛用于航天航空、石油化工、機械制造、車(chē)輛制造、電線(xiàn)電纜、紡織纖維、塑料橡膠、陶瓷建材、食品、醫藥包裝、金屬材料、建筑工程等行業(yè)，以及高等院校、科研院所、技術(shù)監督、質(zhì)檢站所等部門(mén).

技術(shù)參數：

型號	GT-TC-80	GT-TC-150	GT-TC-225	GT-TC-500	GT-TC-800	GT-TC-1000
內箱尺寸（WxHxD）mm	400x500x400	500x600x500	500x750x600	700x800x900	1000x1000x800	1000x1000x1000
溫度范圍	G：-20℃ ~ +100℃（150℃）；Z：-40℃ ~ +100℃（150℃）；D：-70℃ ~ +100℃（150℃）
結構	三箱式（低溫區、高溫區、測試區） / 兩箱式（低溫區、高溫區、吊籃）
氣門(mén)裝置	強制的空氣裝置氣門(mén) / 吊籃
內箱材質(zhì)	鏡面不銹鋼 SUS 304
外箱材質(zhì)	霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆
測試架	不銹鋼架
冷凍系統	二段式
冷卻方式	半密閉式雙段壓縮機（水冷式）/全封閉式雙段壓縮機（風(fēng)冷式）
高溫區溫度	+60 ℃～ +200 ℃
低溫區溫度	-10 ℃～ -80 ℃ /-10 ℃～ -70 ℃
高溫沖擊溫度范圍	+60 ℃～ +150℃
低溫沖擊溫度范圍	-10 ℃～ -55 ℃ /-10 ℃～ -65 ℃
溫度均勻度	± 2 ℃
溫度波動(dòng)度	± 1.0 ℃
高溫沖擊時(shí)間	Rt ～ +150 ℃ /5min
低溫沖擊時(shí)間	Rt ～ -55 ℃ /5min Rt ～ -65 ℃ /5min
預熱時(shí)間	45min
預冷時(shí)間	100min
注：另可根據客戶(hù)的要求設計客戶(hù)滿(mǎn)意的電子元器件高低溫沖擊測試箱

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